Circuito del elemento fusible del dispositivo de memoria semiconductor
Descripción general
 Proporcione un circuito de elemento fusible que evite el corte erróneo de los fusibles configurando la señal de cambio de opción de manera más confiable y mejorando el rendimiento. ] Provista de un maniquí fusible la primera y segunda señales de entrada en una condición de entrada predeterminada se cortan cuando se aplica, se genera la porción maniquí fusible 400 para generar una señal ficticia en el corte fusible simulado, y primera señal ficticia Y una primera unidad fusible 500 que tiene un fusible que se desconecta cuando se aplica una señal de entrada 3 en condiciones de entrada predeterminadas y que genera una primera señal de cambio de opción cortando el fusible. Un fusible que se desconecta cuando no se genera una primera señal de cambio de opción y se aplica una cuarta señal de entrada bajo una condición de entrada predeterminada cuando el número de señales de cambio de opción es plural. Y una segunda unidad fusible 600 para generar una señal.
Campo técnico
La presente invención se refiere a un dispositivo de memoria de semiconductor, y más particularmente a un circuito de elemento de fusible eléctricamente fusionable utilizado para especificar un modo de operación específico de una memoria.
Antecedentes de la técnica
Generalmente, en un dispositivo de memoria semiconductor, un elemento fusible se usa ampliamente como un elemento de circuito para especificar el funcionamiento de la memoria. Por ejemplo, se usa como medio para activar el almacenamiento de una dirección defectuosa en un circuito de redundancia de reparación de defectos, o como un medio de selección para designar un modo de prueba predeterminado y similares. El elemento fusible funciona en este caso para generar la salida designada para la entrada específica de acuerdo con el estado de corte del fusible. Como método para cortar dicho fusible, hay un método por irradiación con haz de láser y un método de corte de corriente al pasar una corriente eléctrica necesaria para la fusión. método de corte por rayo láser está disponible sólo en el estado de la oblea en la que se expone el elemento fusible, porque después del proceso de envasado tiene una desventaja de que no puede aplicarse, ampliamente utilizado en los métodos de corte actuales escindibles fusibles actualmente en estado de productos acabados Lo ha hecho.
La figura 1 muestra un diagrama de bloques de un circuito de elemento de fusible convencional. La primera se ilustra, formando en primer lugar el segundo de cada porción fusible, el segundo generador de señales de primera fusible 100 y 101, primero, segundo generador de señales de segundo fusible 200, 201, primero, Un diagrama de circuito específico del segundo generador de señal de cambio de opción 300, 301 se muestra en las Figuras 3A y 3C, respectivamente.
Para generar la primera y la segunda opción de cambio de señales en respuesta a la primera y segunda o tercera y cuarta señales de entrada en el circuito ilustrado, se obtienen las siguientes condiciones de señal de entrada.
generador de señal de fusible Primera 100 y 101 se muestra en la Figura 3A, se compone de un número de inversor 2,10,11 puerta lógica 3 9 Prefecture, la señal de entrada 1 y emite la primera señal de fusible por operación lógica. En este caso, el PIN1 terminal 9 de la señal de entrada 1 es la entrada, PIN1,2,3,4,8,9 es 'baja', la primera señal de fusible es 'alta cuando el PIN5,6,7 es' alta ' '. 3B incluye las compuertas NAND 20 y 28 y una serie de inversores 21 27 y 29. Cuando se genera la primera señal de fusible y la segunda señal de entrada es Cuando se ingresa como 'alto', emite la segunda señal de fusible como 'alta'. El generador de cambio opcional de señal 300, 301 se muestra en la Fig. 3C, incluye un bloque de fusibles 40 compuesta de un fusible 49 y el transistor NMOS 50, un condensador 41 y 45 para la protección, las resistencias 42, se proporciona el transistor NMOS 43 Ahí Por lo tanto, se aplica un gran flujo de corriente debido a la fuente de alimentación VDD instantánea de voltaje por la conducción del transistor NMOS 50 a una segunda señal de fusible generado, el fusible 49 está desconectado. Cuando el fusible 49 se desconecta, de acuerdo con un número de inversores 44, 46 48, la señal de cambio opcional era 'alto' antes del corte fusible se cambia a 'baja' es la salida como una señal para realizar la función cambia dentro.
3A
3B
3C
Tarea de solución
Como se describió anteriormente, para desconectar el fusible 49 mostrado en la figura 3C y hacer que la señal de cambio de opción actúe como una señal de cambio de modo de operación, la primera cuarta señal de entrada debe coincidir con la condición de entrada. Sin embargo, un tal circuito elemento fusible, hay una posibilidad de que el ruido para cada señal de entrada se establece condiciones de corte fusible incorrectamente pegamento, se ajusta el modo diferente y el modo de operación, puede conducir a una disminución en el rendimiento Hay.
3C
Sumario de la invención Por lo tanto, un objeto de la presente invención es proporcionar un circuito de elemento fusible capaz de evitar de forma más fiable el corte de fusibles debido a un mal funcionamiento. Como resultado, se genera una señal de cambio de opción precisa para contribuir a una mejora en el rendimiento.
Solución
La presente invención para este propósito, el circuito del elemento fusible del dispositivo de memoria de semiconductor para generar una señal de cambio de opción para ajustar el modo de funcionamiento, que comprende un fusible maniquí cortada cuando se aplica la señal de entrada en una condición de entrada predeterminado, que comprende una unidad de fusible maniquí para generar una señal ficticia en el corte fusible maniquí, se genera la señal de fusible maniquí y la señal de entrada que no sea la señal de entrada se desconecta cuando se aplica con una condición de entrada predeterminado, el corte fusible Y una primera unidad de fusibles para generar una primera señal de cambio de opción con la primera unidad de fusibles.
Y aún más, los fusibles de señal de entrada que no sea la señal de entrada utilizada y la unidad fusible maniquí sin opciones cambian se genera señal de la primera pieza fusible y una primera parte fusible se corta cuando se aplica con una condición de entrada predeterminado Y una segunda porción de fusible para generar una segunda opción cambia la señal desconectando el fusible. En este caso, la unidad fusible adicional para la generación de diferentes opciones de cambio de señal en base a una segunda pieza fusible señal mismo modo de entrada distinta de la señal de entrada se utiliza para cambiar la señal de opciones y precediendo una parte fusible por precedente unidad fusible 1 O más
Alternativamente, la unidad fusible adicional para la generación de diferentes opciones de cambio de la señal basándose en la señal de entrada distinta de la señal de entrada de la unidad de señal ficticia y el fusible maniquí y utilizado para la primera parte fusible por la unidad de fusible maniquí en la misma manera que la primera parte fusible 1 o más Alternativamente, se proporcionan una pluralidad de combinaciones de la porción de fusible ficticio y la primera porción de fusible.
Como un aspecto específico de la presente invención, el circuito del elemento fusible del dispositivo de memoria de semiconductor para generar una señal de cambio de opción para ajustar el modo de operación, la primera de la primera señal de fusibles para emitir una primera señal de fusible en base a la primera señal de entrada tener un generador, un primer generador de señal de segundo fusible para emitir una segunda señal de fusible en base a la primera señal de fusible y la segunda señal de entrada, el fusible simulado se corta en base a la segunda señal de fusible, el Y un generador de señal ficticio para emitir una señal ficticia desconectando el fusible ficticio, un segundo generador de señal de fusible para emitir una primera señal de fusible basada en la tercera señal de entrada, un segundo generador de señal de segundo fusible para emitir una segunda señal de fusible en base a la primera señal de fusible y la señal ficticia, Setsu en base a dicha segunda señal de fusible Y un primer generador de señal de cambio de opción para emitir una primera señal de cambio de opción por desconexión del fusible, y una segunda sección de fusible que incluye una primera señal de fusible basada en la cuarta señal de entrada, un tercer generador primera señal de fusibles para dar salida a una tercera parte del segundo generador de señales de fusibles para emitir una segunda señal de fusibles en base a la primera señal de fusibles y la primera señal de cambio de opción, dicho segundo fusible Y una segunda opción cambia el generador de señal que tiene un fusible para ser desconectado sobre la base de la señal y la salida de una segunda señal de cambio de opción por la desconexión del fusible Proporcionando así un circuito de elemento fusible.
Ejemplos
En lo sucesivo, las realizaciones de la presente invención se describirán en detalle con referencia a los dibujos adjuntos. Las partes comunes en la figura se indican con los mismos números de referencia. Además, en cuanto a los asuntos conocidos relacionados, se omite la explicación según corresponda.
La figura 2 es un diagrama de bloques de un circuito de elemento de fusible para habilitar una señal de cambio de opción de acuerdo con la presente invención. Y la unidad fusible maniquí 400 se proporciona como se muestra en la figura, la unidad ficticia fusible 400, un generador de señal primero primer fusible 100 que recibe la primera señal de entrada, la primera de la primera fusible generador de señal de fusibles primero y segundo 200, una señal ficticia para la entrada de la segunda señal de fusible según el primer generador de señal de segundo fusible 200 para introducir la primera señal de fusible y la segunda señal de entrada por el generador de señal 100 Y un generador 300.
salida de señal ficticia de la unidad fusible ficticio 400 es de entrada con la primera señal de fusible por un segundo generador de señal primero fusible 101 para la introducción de una tercera señal de entrada a la segunda del generador de señal de segundo fusible 201. La segunda señal de fusible generada por el segundo generador de señal de fusible 201 se introduce en un primer generador de señal de cambio de opción 301 que genera una primera señal de cambio de opción. Como resultado, la primera señal de cambio de opción se genera desde la primera unidad de fusible 500. La primera señal de cambio de opción generada por el primer generador de señal de cambio de opción 301 se introduce en el tercer primer generador de señal de fusible 102 y la tercera segunda señal de fusible Y es entrada al generador 202. La segunda señal de fusible generada por el tercer generador de señal de fusible 202 se introduce en el segundo generador de señal de cambio de opción 302 de modo que la segunda señal de cambio de opción se emite desde la segunda unidad de fusible 600 .
3A, el primer generador de señal de fusible del tercer segundo 200 202 tiene la misma configuración que la Fig. 3B, el generador de señal ficticio 300 y el 1, y los generadores de señal de cambio de segunda opción 301 y 302 tienen la misma configuración que la Fig. 3C.
3A
3B
3C
Según esta realización, las condiciones de entrada de la primera y segunda señales de entrada es tan larga como las condiciones para cortar el fusible 49 del generador de señal ficticia 300, una señal ficticia está activado desde la porción fusible maniquí 400 por el corte fusible . Esto permitió a la señal ficticia se utiliza como señal de entrada de la segunda del generador de señal de segundo fusible 201, que en conjunto cuando la tercera señal de entrada es la entrada en la condición para que la primera señal de cambio de opción, una primera El fusible 49 del generador de señal de cambio de opción 301 se desconecta y la primera señal de cambio de opción se habilita desde la primera unidad de fusible 500 mediante la desconexión del fusible 49. Además, si está activada la primera señal de cambio de opción que se utiliza como una señal de entrada de la tercera parte del generador de señal de primer fusible 202, la cuarta señal de entrada en este momento se introduce por la condición de permitir de la señal de cambio segunda opción El fusible 49 del segundo generador de señal de cambio de opción 302 se desconecta y la segunda señal de cambio de opción se habilita desde la segunda parte de fusible 600 mediante la desconexión del fusible 49.
Por lo tanto, si no la señal ficticia por la porción fusible ficticio 400 para impedir un funcionamiento erróneo debido al ruido en el estado habilitado, como la tercera señal de entrada se introduce en las condiciones de corte del fusible del generador de señales primera opción de cambio de fusibles 301 49 No está cortado. Cuando se habilita la primera señal de cambio de opción, la cuarta señal de entrada es el fusible 49 no se corta introducirse en las condiciones de corte del fusible del generador de señal de segundo cambio de opción 302. Además, se introduce si la primera y la segunda señal de entrada a la parte fusible ficticio 400 es una condición de desconexión accidental del fusible 49 para permitir que la señal ficticia, el fusible 49 del generador de señales primera opción de cambio 301 Para hacer esto, la tercera señal de entrada debe ser la condición de corte del fusible. Es decir, se mejora la inmunidad al ruido.
Aunque la presente invención se ha descrito a modo de ejemplo centrándose en los dibujos, la presente invención no se limita a esto, y es muy posible que sean posibles diversas modificaciones dentro de la idea técnica de la presente invención, Es comprensible
Por ejemplo, también es posible proporcionar una pluralidad de combinaciones de la porción fusible simulado 400 y la primera porción fusible 500, la primera señal ficticia por la unidad de fusible simulado 400, entrada en paralelo a ambos de la segunda porción fusible 500, 600 También es posible hacer. Alternativamente, también es posible proporcionar una pluralidad de etapas posteriores a la segunda sección de fusibles 600.
Efecto de la invención
Según la presente invención, proporcionando una unidad de fusible maniquí para generar una señal ficticia de acuerdo con la señal de entrada, que si por la señal ficticia hay corte de fusibles para la señal de cambio opcional que no se realizó, que las convencionales Es excelente en inmunidad al ruido y es posible generar con precisión una señal de cambio de opción. Por lo tanto, el rendimiento del dispositivo se puede mejorar proporcionando una señal de cambio de opción precisa.
La figura 1 es un diagrama de bloques de un circuito de elemento de fusible convencional.
La figura 2 es un diagrama de bloques de un circuito de elemento de fusible según la presente invención.
La figura 3 es un diagrama de circuito que muestra un ejemplo de circuito específico del circuito de elemento de fusible mostrado en la figura 1 y la figura 2.
100, 101, 102 primer generador de señal de fusible
Generador de señal de fusible de 200, 201 y 202 segundos
Generador de señal simulada 300
301, 302 Generador de señal de cambio de opción
400 Fusible ficticio parte
500, 600 parte Fusible
Reclamo
En el circuito del elemento fusible del dispositivo de memoria de semiconductor para generar una señal de cambio de opción para el establecimiento de las reivindicaciones 1 modo de funcionamiento, que comprende un fusible maniquí cortada cuando se aplica la señal de entrada en una condición de entrada predeterminado, el maniquí en la desconexión del fusible maniquí Una unidad ficticia ficticia para generar una señal y un fusible que se desconectará cuando se genere la señal ficticia y se aplique una señal de entrada distinta de la señal de entrada en una condición de entrada predeterminada. Y una primera unidad de fusibles para generar una señal en respuesta a la señal del fusible.
reivindicación Fuse 2 primera señal de entrada que no sea la señal de entrada utilizada y la unidad fusible maniquí y la primera porción fusible sin opciones de cambio de señal se genera desde la unidad fusible se corta cuando se aplica con una condición de entrada predeterminado 2. Circuito de elemento fusible según la reivindicación 1, que comprende además una segunda parte de fusible para generar una segunda señal de cambio de opción cortando el fusible.
1 o más unidad fusible adicional para la generación de la reivindicación 3 opciones diferentes de cambio de señal en base a una segunda pieza fusible señal mismo modo de entrada distinta de la señal de entrada se utiliza para cambiar la señal de opciones y precediendo una parte fusible por precedente porción fusible 3. Circuito de elemento fusible según la reivindicación 2, que comprende:
unidad fusible adicional que genera un cuarto aspecto las primeras opciones de señal ficticia y unidad fusible maniquí y diferentes cambio de señal basado en la señal de entrada distinta de la señal de entrada usando la primera parte fusible por la unidad de fusible porción fusible ficticio de la misma manera 2. Circuito de elemento fusible según la reivindicación 1, que comprende además:
5. Circuito de elemento fusible según la reivindicación 1, que comprende una pluralidad de combinaciones de una parte de fusible ficticio y una primera parte de fusible.
En el circuito del elemento fusible del dispositivo de memoria de semiconductor para generar una señal de cambio de opción para ajustar el modo de funcionamiento según la reivindicación 6, un primer generador de señal primero fusible para emitir una primera señal de fusible en base a la primera señal de entrada, dicha primera un primer generador de señal de segundo fusible para emitir una segunda señal de fusible sobre la base de la señal de fusible y la segunda señal de entrada tiene un fusible maniquí cortar sobre la base de la segunda señal de fusible, la señal ficticia en la desconexión del fusible maniquí un generador de señal ficticia para la salida, en la unidad de fusible maniquí compuesta, también, un segundo generador de primera señal de fusible para emitir una primera señal de fusible sobre la base de la tercera señal de entrada, la primera señal de fusible y el maniquí Un segundo generador de señal de fusible para emitir una segunda señal de fusible sobre la base de la señal, y un fusible que se desconectará en función de la segunda señal de fusible, Un generador de señal de cambio de primera opción para emitir una primera señal de cambio de opción en el corte fusible, en la primera parte fusible configurado y tercero segundo a la salida una primera señal de fusible sobre la base de la cuarta señal de entrada un generador de señal de primer fusible, y una tercera parte de la segunda generador de señales de fusibles para emitir una segunda señal de fusibles en base a la primera señal de fusibles y la primera señal de cambio de opción, el fusible que se corta a partir de la segunda señal de fusibles Y un segundo generador de señal de cambio de opción para emitir una segunda señal de cambio de opción desconectando dicho fusible, en el que dicho circuito de elemento fusible comprende:
Dibujo :
Application number :1997-007391
Inventors :三星電子株式会社
Original Assignee :權國煥、朴煕哲