Detector de condición de temperatura del dispositivo
Descripción general
 El estado de temperatura del dispositivo permanece montado en el bastidor aparato agarró con precisión, también posibles programas de escritura de reescritura sustractivos eléctricos para semiconductor datos dispositivo de circuito integrado (en lo sucesivo, EEPROM) sin detener el funciones de operación que no sea Habilitar escritura ] Escribir los datos de programa de comprobación de temperatura del dispositivo cambia el tiempo de transmisión de información por parte de EEPROM de temperatura 18, y coteja el estado de almacenamiento de datos y antes de escribir dispositivo de temperatura del programa de verificación de datos EEPROM 18, desde la escritura de los datos del programa de ajuste de datos Compara el tiempo de finalización de la serie de procesamiento con el tiempo transcurrido desde la escritura hasta la finalización de la verificación preparada para cada dispositivo de circuito integrado semiconductor en la sección 6 de la base de datos del dispositivo y juzga si la escritura de los datos reales del programa puede realizarse basándose en el resultado La unidad de determinación 5 determina y muestra el resultado de la determinación en la unidad de visualización 4.
Campo técnico
La presente invención se refiere a la escritura de datos de un dispositivo de circuito integrado de semiconductor grabable eléctricamente borrable (denominado en lo sucesivo EEPROM) capaz de escribir datos una pluralidad de veces, y más particularmente a un detector de estado de temperatura del dispositivo.
Antecedentes de la técnica
Convencionalmente, todo o parte de la función entera aparato, al escribir los datos de programa en la EEPROM detiene la operación, por ejemplo, la unidad de placa de circuito impreso, hay una temperatura del dispositivo del fabricante del dispositivo de la EEPROM se especifica, la escritura Espere hasta que se alcance una temperatura adecuada, tomando suficiente tiempo para enfriar o retirar la placa de circuito impreso en la que está montada la EEPROM a escribir desde el bastidor del equipo y mida la temperatura EEPROM para escribir directamente con un termómetro o similar. La escritura se llevó a cabo después de confirmar que hacía frío por debajo de la temperatura de.
Tarea de solución
El fabricante del dispositivo no garantiza el estado de retención de información después de la escritura cuando los datos de programación se escriben en el rango de temperatura alta debido a las características de la EEPROM. Por esta razón la técnica anterior, o esperar hasta que la EEPROM objetivo de la escritura obtener suficiente frío, hace frío el bastidor del dispositivo debajo de la temperatura especificada del fabricante del dispositivo para medir la temperatura del paquete de EEPROM quitar la placa de circuito impreso directamente termómetro, etc. Pero, en este caso, lleva mucho tiempo escribir los datos, por lo que la eficiencia de la operación es muy baja, y hay una diferencia de temperatura entre la superficie y el interior del paquete EEPROM, por lo que es precisa Era imposible comprender las condiciones de temperatura.
Además, en el pasado, era fácil dejar de funcionar si se trataba de una unidad de placa de circuito impreso específica entre todas las funciones del dispositivo, pero en los últimos años, dado que el montaje de alta densidad progresa y muchas operaciones de funciones se realizan en una placa impresa, Existe el problema de que la función no se puede detener fácilmente en base a una unidad de sustrato.
Por consiguiente, la presente invención, los inconvenientes de la técnica anterior para mejorar, para comprender con precisión el estado de temperatura del dispositivo permanece montado en el bastidor del aparato, también sin parar las funciones de operación que no sea EEPROM escribir los datos del programa Para permitir la escritura
Solución
Para resolver el problema anterior, la presente invención emplea los siguientes medios.
(1) Unidad de control de flujo de datos para controlar el flujo de datos desde la unidad de escritura integrado semiconductor circuito programa de dispositivo de escritura de datos y una unidad de ajuste cultivares dispositivo para la integrado semiconductor nombre de dispositivo de circuito especificada, una unidad de base de datos de dispositivo de circuito integrado semiconductor Una serie que procesa la sección de conteo del tiempo de finalización para comprender el tiempo en que se completa una serie de procesos desde la escritura de datos del programa hasta la verificación de datos, un estado de almacenamiento de datos del dispositivo de circuito integrado semiconductor grabable y datos del programa de verificación de temperatura del programa y una unidad de intercalación con, y envía los datos de programa para la verificación de temperatura del dispositivo de la unidad de base de datos, de grabar en un dispositivo de circuito integrado semiconductor de escritura, dicho semiconductor integrado dispositivo de circuito de estado de almacenamiento de datos y antes de escribir los datos del programa de verificación temperatura del dispositivo Y compara el tiempo de finalización del procesamiento en serie y Un detector de estado de temperatura del dispositivo que compara el tiempo transcurrido desde la escritura preparada para cada dispositivo de circuito integrado de semiconductores correspondiente en la sección de la base de datos hasta la finalización de la verificación y juzga si la escritura de datos reales del programa se puede ejecutar en función del resultado .
(2) El detector de estado de temperatura del dispositivo según (1) anterior, que comprende además una sección de designación de inicio / final para controlar la transmisión de los datos del programa de verificación de temperatura del dispositivo y la serie de la sección de conteo de tiempo de finalización de procesamiento.
(3) El detector de estado de temperatura del dispositivo de acuerdo con (1) anterior, que comprende además una unidad de visualización para visualizar si se escribe o no el tipo de producto y los datos de programa reales designados por la unidad de configuración de tipo de dispositivo.
Las realizaciones de la presente invención se describirán con referencia a los dibujos. La figura 1 es un diagrama de bloques que muestra una realización de la presente invención, que muestra un diagrama funcional dentro del dispositivo y un escritor de datos de programa para un dispositivo de circuito integrado semiconductor grabable. 1, el número de referencia 1 indica un cuerpo principal del detector de temperatura del dispositivo (en lo sucesivo denominado detector 1), el número de referencia 2 indica los datos del programa para un dispositivo de circuito integrado semiconductor grabable conectado a través de un conector de entrada / salida de datos 19 al detector 1 Es una máquina de escribir (en lo sucesivo, un escritor). Una unidad de configuración de tipo de dispositivo 3 para seleccionar y designar un tipo de destino de EEPROM a la que se escribirán datos de programa, una unidad de visualización 4 para hacer visible el tipo de producto designado por la unidad de configuración de tipo de dispositivo 3, una unidad de visualización 6 Una sección de base de datos de dispositivo que almacena datos de dispositivo para cada fabricante de dispositivos, y comprende una sección de almacenamiento de datos de tiempo 7 y una sección de almacenamiento de datos de programa de verificación de datos de dispositivo 8. El número de referencia 9 denota una unidad de control de transmisión de datos del programa para la verificación de la temperatura del dispositivo de la unidad de base de datos del dispositivo 6. 10 Inicio Fin unidad especificando para accionar o detener el funcionamiento de los detectores, 11 escribe los datos del programa para comprobar la temperatura del dispositivo EEPROM 18, un plazo de ejecución de procesamiento de serie para captar el tiempo para completar la comparación y el cotejo con el valor esperado Una sección de conteo 12, una sección de control de flujo de datos 12 para controlar el flujo de datos de programa, y ​​comprende una sección de conmutación 13 para cambiar directamente el flujo de datos y una sección de control de conmutador 14 para controlar la sección de conmutación. 15 después de escribir los datos del programa de verificación temperatura del dispositivo almacenados en la unidad de base de datos de dispositivo 6 en la EEPROM 18, lee el contenido de la EEPROM 18 de nuevo, la información de la comparación de los datos del programa de verificación temperatura dispositivo de estado y originales de dichos datos como un valor esperado Unidad de verificación de valor a ser esperada. El número de referencia 16 denota una estantería de dispositivo que aloja una placa de circuito impreso que tiene las funciones respectivas para el dispositivo, y 17 denota una placa de circuito impreso en la que están montados los componentes pasivos activos. 20 es un conector de entrada / salida de datos para conectar el detector de la presente invención y la EEPROM 18 montada en la placa de circuito impreso 17 alojada en la cremallera 16 del equipo.
A continuación, se describirá la operación de la realización mostrada en la figura 1. En primer lugar, el detector 1 y el encendedor 2 de la presente invención están conectados a través de un conector 19 especificado por un fabricante de dispositivos. De forma similar, el detector 1 y la EEPROM 18 montada en la placa de circuito impreso 17 en la parrilla de aparatos 16 también están conectados a través de un conector 20 designado por un fabricante de dispositivos. Entonces, la unidad de configuración de tipo de dispositivo 3 del detector 1 establece el fabricante del dispositivo y el nombre del tipo de dispositivo visualizado en la unidad de visualización 4. Cuando se selecciona la EEPROM se desea, el valor del tiempo de finalización de procesamiento de serie EEPROM correspondiente estándar se encuentra en la unidad de determinación no defectuoso 5 de la unidad de almacenamiento de datos temporales 7 en la unidad de base de datos de dispositivo 6. Además, los datos del programa se obtienen de la unidad de almacenamiento de datos 8 del programa de comprobación de la temperatura del dispositivo a la unidad de control de envío de datos del programa de verificación de la temperatura del dispositivo 9. La unidad 13 de conmutación de la unidad 12 de control de flujo de datos normalmente desconecta la ruta de la grabadora 2, de modo que no se realiza la escritura accidental inadvertida de datos de programa.
Posteriormente, cuando se especifica un inicio de la operación de detección de estado de temperatura del dispositivo en la unidad de inicio y de designación de extremo 10, una señal de instrucción se hace pasar simultáneamente a la unidad de control de la transmisión de datos de programa de verificación temperatura del dispositivo 9 y un tiempo de finalización de procesamiento fijada contando unidad 11, un tiempo de serie de procesamiento de finalización unidad de conteo empieza a contar el 11 En el tiempo, los datos del programa de verificación temperatura del dispositivo de la unidad de programa de comprobación de control de transmisión de datos de temperatura dispositivo 9 se transmite hacia el EEPROM18 y espera unidad de comparación de valor 15, de EEPROM18 la sección de comparación de valor esperado 15 Y se almacena como datos de valores de expectativa para coincidir después de leer los datos de la FIG. Cuando se haya completado la comprobación EEPROM18 escritura de datos programa de temperatura del dispositivo, realizar la lectura de los datos almacenados en el comparador valor esperado de 15 EEPROM18 ejecución esperada sección de comparación de valor 15, el programa de comprobación de temperatura del dispositivo que ya está almacenada Comparar con datos.
En este momento, si hay discrepancias en ambos datos, la información se pasa como un aceptabilidad error sección 5 a juzgar, la unidad de determinación no defectuoso 5 envía una señal que indica que un mensaje de error se visualiza en la unidad de visualización 4, en comparación valor esperado Indica que hay una discrepancia y dice que EEPROM 18 no puede escribir datos reales del programa. Al mismo tiempo, envía una señal para detener el recuento de la cuenta de tiempo a la sección de conteo de tiempo de finalización de procesamiento de serie 11.
Si no hay desajuste en la coincidencia de valores esperados, la unidad de comparación de valores esperados 15 envía una señal de terminación de comparación de valores esperados a la unidad de recuento de tiempo de finalización de procesamiento en serie 11.
Como resultado, la sección de conteo de tiempo de finalización de procesamiento en serie 11 detiene el conteo de tiempo y transfiere el valor de tiempo acumulado a la sección de evaluación de calidad 5. unidad de valoración de Calidad 5 compara la magnitud real del valor de tiempo ya valor de tiempo estándar que se obtiene a partir de la unidad de almacenamiento de datos de tiempo 7, si el valor de tiempo real es mayor que el valor de tiempo estándar, la unidad de visualización 4 como un error Pasa la señal. La unidad de visualización 4 lo muestra como un error y notifica a la EEPROM 18 que los datos de programa actuales no pueden escribirse en este momento. Cuando se envía un error desde la unidad de evaluación de aprobación / falla 5, todos los estados de retención de información, excepto el ajuste del tipo de dispositivo relacionado, se reinician y vuelven al estado inicial. Este procedimiento es el mismo que cuando la designación de terminación se realiza en la sección 10 de designación de inicio / final porque es necesario detener el funcionamiento del detector 1 por alguna razón. Si se procesa en cuestión de horas estándar para completar incluso el último tiempo de procesamiento de la serie sin desajuste espera comparación de valores, la que aparece en la unidad de visualización 4 que escribe verdadero programa de datos se puede implementar en la EEPROM 18, los datos La unidad de control de conmutación 14 de la unidad de control de flujo 12 instruye a la unidad de conmutación 13 para conectar el dispositivo de escritura 2 y la EEPROM 18 de modo que la EEPROM 18 pueda verse directamente desde el encendedor 2. Como resultado, los datos reales del programa se pueden enviar a la EEPROM 18, y la escritura se puede realizar a la temperatura del dispositivo especificada por el fabricante del dispositivo.
Efecto de la invención
Como se explicó anteriormente, la presente invención es un estado de temperatura del dispositivo mientras se monta en el estante del equipo. Se puede comprender, por lo que es fácil juzgar si los datos del programa se pueden escribir. Por lo tanto, no es necesario perder tiempo hasta que la EEPROM se enfríe suficientemente, o para retirar la placa de circuito impreso y medir directamente la temperatura de la EEPROM con un termómetro o similar. Además, incluso en una placa de circuito impreso multifunción con montaje de alta densidad en los últimos años, la escritura se puede realizar sin detener las funciones de funcionamiento distintas de EEPROM para escribir datos del programa.
Por encima, detectores de estado de temperatura dispositivo de la presente invención, puesto que la condición de temperatura dispositivo disponible con precisión y facilidad en el momento de escribir el proceso de escritura de datos de programa en la EEPROM, pueden mantener un control de calidad para acortar el fabricante del dispositivo del tiempo de trabajo .
La figura 1 es un diagrama de bloques que muestra una realización de la presente invención.
1 cuerpo del detector de temperatura del dispositivo (detector)
2 Escritor de datos de programa escribible para dispositivo de circuito integrado semiconductor (escritor)
3 parte de configuración del tipo de dispositivo
4 sección de visualización
5 unidad de juicio de aprobación / reprobación
6 sección de la base de datos del dispositivo
7 horas de almacenamiento de datos
8 Almacenamiento de datos del programa para verificar la temperatura del dispositivo
9 Unidad de control de transmisión de datos del programa para la comprobación de la temperatura del dispositivo
Parte de designación de inicio 10
11 series que procesan tiempo de finalización que cuenta la parte
12 Unidad de control de flujo de datos
13 Cambiar parte
14 Unidad de control del interruptor
15 Unidad de colación de valores esperados
16 equipos rack
17 placa de circuito impreso
18 EEPROM
19 Conector
Conector 20
Reclamo
Una unidad de control de flujo de datos para controlar el flujo de datos a partir de las reivindicaciones 1 semiconductor escribible circuito integrado escritor de datos de programa del dispositivo, y una unidad de ajuste de cultivares dispositivo para la integrado semiconductor nombre de dispositivo de circuito especificada, una unidad de base de datos de dispositivo de circuito integrado semiconductor Una serie que procesa la sección de conteo del tiempo de finalización para comprender el tiempo en que se completa una serie de procesos desde la escritura de datos del programa hasta la verificación de datos, un estado de almacenamiento de datos del dispositivo de circuito integrado semiconductor grabable y datos del programa de verificación de temperatura del programa Y una unidad de colación para enviar datos del programa de verificación de temperatura del dispositivo desde la unidad de base de datos y escribir los datos del programa de verificación de temperatura del dispositivo en el dispositivo de circuito integrado semiconductor escribible para que el estado de almacenamiento de datos del dispositivo de circuito integrado semiconductor , Y la serie que procesa el tiempo de finalización Con un período de tiempo desde una escritura preparada para cada dispositivo de circuito integrado de semiconductores correspondiente en la sección de la base de datos hasta la finalización de la verificación y evaluación de si la escritura de los datos reales del programa puede ejecutarse basándose en el resultado de la comparación Detector de condición de temperatura del dispositivo.
2. Detector de estado de temperatura del dispositivo según la reivindicación 1, que comprende además una sección de designación de inicio / final para controlar la transmisión de los datos del programa de verificación de temperatura del dispositivo y la sección de conteo de tiempo de finalización del procesamiento en serie.
3. El detector de estado de temperatura del dispositivo según la reivindicación 1, que comprende además una unidad de visualización para visualizar si se escribe o no el tipo de producto y los datos de programa reales designados por la unidad de configuración de tipo de dispositivo.
Dibujo :
Application number :1996-339700
Inventors :日本電気株式会社
Original Assignee :榎田孝